相变温度分析仪PCA
一、产品简介及用途
相变温度分析仪 PCA 是根据材料相变前后光学性质（反射光功率）有较大差异的特性，在程序控温下，使用一束恒定功率的激光照射样品表面，记录反射光功率变化，形成反射光功率与温度变化曲线，从而确定相变温度。
二、性能特点
采用具有专利技术的光学系统检测原理，配有高性能的加热及控制系统和人性化的送样组件，仪器性能优越
不仅可以检测多种块体材料，还可以检测各种薄膜样品，为客户对材料的研究提供更大的便利和支持
无损检测，不破坏样品，节约成本
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三、主要技术参数
设备型号 | PCA-3 |
温度范围 | 室温~1200℃ |
程序升温重复性/ 速率偏差 | ＜1%（10℃/s，中间段） |
相变温度测量精密度/ 准确度偏差 | ＜3% |
最大升温速率 | 50℃/s |
温度均匀性 | ≤1%设定温度 |
相变薄膜材料检测厚度下限 | 1×10-9m |
四、应用功能
各种材料相变温度（融化、软化、晶化等）的实时测定
新型材料（相变材料、相变储能材料）的稳定性测试及性能优化
新型相变机理（晶化温度的尺寸效应、材料的结晶动力学过程等）研究
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应用材料：
NiAl 复合薄膜、GeTe 薄膜、MgO/Ni-Mn-Ga 薄膜、SiC 薄膜、Al2O3薄膜
TiN 薄膜、PZT 铁电材料、掺 Ti 的 ZnSb 薄膜、金属 Co 薄膜、形变记忆合金材料
二氧化钒薄膜、ZrO2 薄膜、GST 相变存储薄膜、显示屏玻璃
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五、应用案例
六、视频展示
这里传个视频或其他想展示的内容
