TEA 采用创新的光干涉原理专利技术,可无损检测块体和薄膜样品的热膨胀系数,广泛应用于辅助各种新材料,尤其是薄膜材料的研究与开发以及质量检验。
自主知识产权产品,拥有多项技术专利
基于光干涉原理的创新技术
采用 PID 调节与模糊控制相结合形式控制的红外加热方式,大温区连续、高速温度跟随、既定程序升温及保持控制
非接触式无损检测,测试精度高
具备外接抽真空设备、循环水冷设备及载气或制冷能力
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设备型号 | TEA-3 |
温度范围 | 室温~1200℃ |
升温重复性/ 速率偏差 | <1.0% |
测量精密度/ 正确度偏差 | <4.5%/<±15% |
最大升温速度 | 50 ℃/s |
温场一致性 | ≤1% |
极限真空 | 5Pa(机械泵) 5*10-2pa(分子泵) |
光干涉原理专利技术,无损检测材料热膨胀系数,适合透光材料
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