薄膜变温电阻测试系统TRT
一、产品简介及用途
薄膜变温电阻测试仪TRT是采用双电法测量高温、真空、气氛条件下样品的电阻和电阻率，可以用来分析样品的电阻率随温度变化曲线、电阻温度系数、样品相变温度点等。其广泛用于光电、铁电、热电等各种功能材料的电阻率测量。
二、性能特点
采用四线法测量电阻率，测量更加稳定可靠；
采用微伏级别电压表，获得的测试参数更加精确；
可针对客户实际测试需求提供样品载台及腔室的定制化服务；
卡箍设计，方便进行样品更换，提高效率；
友好的软件系统，自动进行测试，并保存数据；
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三、主要技术参数
设备型号 | TRT-3 |
控温范围 | 100K-700K（样品温度） |
控温精度 | ±0.1K（样品温度，稳定后） |
最大升温速率 | 30K/min |
测量范围 | 0.1µΩ•m-106µΩ•m |
测量误差 | ≤±10% |
测量精度 | 0.05μΩ•m |
样品尺寸 | 长：10mm~18mm； 宽：2mm~7mm 厚：50nm~2mm |
四、应用功能
在真空环境中可连续测量电阻随温度的变化
金属、半导体、导电高分子等材料的电导率的测量
五、应用案例展示
六、视频展示
这里传个视频或其他想展示的内容
