产品介绍 霍尔效应测试系统 HET 是依据范德堡法测量材料的电运输性能参数：载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等，薄膜或薄层材料均可测量，可应用于所有半导体材料，包括 Si、ZnO、SiGe、SiC，GaAs，InGaAs，InP，GaN（N型&P型均可测量）, 广泛应用于国内高校、研究所、半导体、金属、高热导有机新材料等行业。 产品特点 采用高精密度恒流源和电压表，确保仪器测试的良好准确度和高稳定性，性能优越； 自动控制磁场方向的改变，更加便捷准确； 样品装夹快速方便，且使用能够解决欧姆接触的样品芯片； 产品采用一体化、精密化设计，融入人性化的设计理念，不仅测量精确而且操作方便； …
产品介绍 用于测量室温及变温环境下，教学样品的电阻率、方阻、电导率、霍尔系数、电子迁移率、载流子浓度等。 功能简介 霍尔系数测试 载流子浓度/迁移率测试 电阻/电导率、方阻测试 室温~100℃变温测量 测试电流/电压指示 样品在位检测 自动测试功能 数据导出功能 磁场方向显示功能 温度/时间显示功能 USB状态显示 … … 产品特点 成熟的测试模型：采用范德堡法测试 小巧轻便：设备重量7kg，体积不到3包A4纸，可轻松托起； 一体化设计：电容式触摸屏控制，不需要另配操作电脑和真空泵； 操作简易：标配多种教学标准样品，即插即测，减少装样操作，提高教学效率； 中英双语：操作界面为中英双语，方便使用…
2025年3月5日，杭州镓仁半导体有限公司宣布全球首颗8英寸氧化镓单晶衬底成功问世，标志着中国半导体产业在第四代材料领域实现跨越式突破。作为镓仁半导体的核心合作伙伴，武汉嘉仪通科技有限公司凭借自主研发的霍尔效应测试仪HET系列，为其氧化镓单晶产品提供了第三方检测支持，以高精度、多维度的电学性能数据验证了材料的产业化潜力。 针对8英寸氧化镓单晶衬底的导电型与UID两种晶体，武汉嘉仪通（Jouleyacht）霍尔效应测试仪通过范德堡法同步测定了电阻率、载流子浓度等关键参数： 导电型晶体：电阻率低至25mΩ·cm，载流子浓度达2.9×10¹⁸ cm⁻¹； UID晶体：电阻率高达664mΩ·…
2025年2月28日，中国计量科学研究院三位资深专家莅临嘉仪通科技股份有限公司，围绕变温霍尔测试系统展开深度技术交流，为材料热物性测试领域的技术创新注入强劲动能。 此次交流活动，是嘉仪通与中国计量院深化产学研合作的重要举措。中国计量院作为计量科学研究中心和法定计量技术机构，在材料测试领域拥有雄厚的技术实力和丰富的经验积累。三位专家分别来自中国计量院热工所和材料所，在变温霍尔测试、材料热物性分析等领域有着深厚的造诣。 交流会上，嘉仪通研发团队详细介绍了公司自主研发的变温霍尔测试系统，该系统实现了从低温到高温的宽温区精准测量，为材料性能研究提供了更全面、更精准的数据支撑。中国计量院专家对嘉仪通在变…
霍尔效应作为一种重要的电磁现象，其参数的准确测量对于理解材料在电磁场中的行为至关重要。而变温霍尔测量则能够揭示材料在不同温度下的霍尔效应变化规律，为材料科学、电子工程和凝聚态物理等领域的研究提供宝贵数据。 嘉仪通公司专业定制的冷热台设备，是能够轻松融入电磁场环境中，并与高精度数字源表实现无缝连接，在磁场中进行变温霍尔参数测量的强大工具。 上海同济大学用冷热台LND设备放入电磁场中，连接2块Keithley 2400表，在80K~RT温度范围下，进行变温霍尔效应、磁阻测量。此次实验的成功，也验证了冷热台与数字源表联用在电磁场中测量变温霍尔参数的可行性和准确性。
霍尔效应测试仪是一种广泛应用于金属、半导体、电子、无机、复合等材料科学领域的实验设备，可以帮助研究人员和工程师们更好地理解材料的电学性质。 霍尔效应的本质是固体材料中的载流子在外加磁场中运动时,因为受到洛仑兹力的作用而使轨迹发生偏移,并在材料两侧产生电荷积累,形成垂直于电流方向的电场,最终使载流子受到的洛仑兹力与电场斥力相平衡,从而在两侧建立起一个稳定的电势差即霍尔电压。正交电场和电流强度与磁场强度的乘积之比就是霍尔系数。平行电场和电流强度之比就是电阻率。 制作一个形状规则的样品，长度L，面积S，厚度t，输入恒定电流I的情况下，测得输出电压U： 我们就能首先测到电阻R=U/I 然后计算电阻率ρ…
2024年9月28日，成都电子科技大学定制嘉仪通霍尔效应测试系统成功验收，这标志着和该校的合作迈上了一个新的台阶。 该产品是成都电子科技大学定制设备，应用于手套箱场景测试。 霍尔效应测试系统(霍尔效应测试仪)HET-3L依据范德堡法则测量材料的电运输性能参数，如载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数、方阻等，薄膜或薄层材料均可测量，可应用于所有半导体材料，包括Si、Zn0、SiGe、SiC,GaAs，InGaAs，InP，GaN(N型&P型均可测量)。
2024年5月23日，吉林大学顺利验收了一台嘉仪通霍尔效应测试仪HET-3RT，这标志着和该校的合作迈上了一个新的台阶。 霍尔效应测试仪HET-3RT基于范德堡法测量材料的电运输性能参数:载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等。该仪器适用于薄膜或薄层半导体材料，包括Si、Zn0、SiGe、SiC，GaAs，InGas，InP，GaN(N型&P型均可测量),广泛应用于高校、研究所、半导体、金属、高热导有机新材料等行业。 嘉仪通专注于材料物性分析测量仪器研发与制造，我们始终坚持自主研发与应用创新，致力于为客户提供材料的高低温环境热、电等性能测试分析的整体解决方案。
