可实现精准可靠的测试与测量分析
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晶圆温探针台为小尺寸样品测量电特性提供高精度可控测量环境。
探针台可实现精准可靠的测试与测量分析,帮助精准测量和分析判断晶圆器件的性能,包括提供材料/器件的IV/CV特性测试、LD/LED/PD的光强/波长测试,射频特性器件失效分析,芯片内部线路/电极/PAD测试等技术解决方案
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