TC-Wafer校准仪,一款专注晶圆温场均匀性测量校准的辅助仪器。适配各类 RTP快速退火炉MOCVD、磁控溅射、刻蚀机、涂胶显影机等需要关注热均匀性测量的相关设备,特殊情况可按需定制。
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半导体制造工艺调校、RTP设备的测试验证、TC-Wafer的测试验证、相关晶圆热处理设备的测试验证,如CVD,PVD,Photo,等等 ……
测温准确 温度偏差在±1.1℃以内、采集周期为200ms,能准确测量晶圆温场均匀性;
使用便捷 仪器集成度高,即插即用。测试记录完整数据,并能自动生成测试报告,支持U盘、蓝牙、无线网络等多种方式导出数据和报告;
显示直观 最多支持20路实时测量(20路以上可定制),显示实时点位图及温度分布图,可在使用过程中实时观察各点温度变化;
功能强大 10000条历史数据存储量,能以图表形式调阅历史温度和均匀性数据。可做同一台设备不同时间段、以及不同设备同一配方的数据对比;
便携易维护 便携一体化设计,配备磁吸支架可贴靠于RTP表面, Type-C接口65W速充,可迅速更换TC-wafer。
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