光学系统专利技术,无损检测材料相变温度测温范围室温~1100C
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相变温度分析仪 PCA 是根据材料相变前后光学性质(反射光功率)有较大差异的特性,在程序控温下,使用一束恒定功率的激光照射样品表面,记录反射光功率变化,形成反射光功率与温度变化曲线,从而确定相变温度。
各种材料相变温度(融化、软化、晶化等)的实时测定;
新型材料(相变材料、相变储能材料)的稳定性测试及性能优化;
新型相变机理(晶化温度的尺寸效应、材料的结晶动力学过程等)研究;……
采用具有专利技术的光学系统检测原理,配有高性能的加热及控制系统和人性化的送样组件,仪器性能优越;
不仅可以检测多种块体材料,还可以检测各种薄膜样品,为客户对材料的研究提供更大的便利和支持;
无损检测,不破坏样品,节约成本;……
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