热膨胀系数分析仪

产品介绍 热膨胀系数分析仪TEA 采用创新的光干涉原理专利技术，可无损检测块体和薄膜样品的热膨胀系数，广泛应用于辅助各种新材料，尤其是薄膜材料的研究与开发以及质量检验。 产品特点 自主知识产权产品，拥有多项技术专利； 基于光干涉原理的创新技术； 采用 PID 调节与模糊控制相结合形式控制的红外加热方式，大温区连续、高速温度跟随、既定程序升温及保持控制； 非接触式无损检测，测试精度高； 具备外接抽真空设备、循环水冷设备及载气或制冷能力； …… 技术参数 设备系列 TEA-3 温度范围 室温~1200℃ 程序升温重复性/速率偏差 ＜1.0%（10℃/s，中间段） 热膨胀系数温度测量精密度/准确度偏…