块体热电参数测试系统
产品介绍 热电参数测试系统 Namicro 采用准动态法和四探针法分别测量样品的Seebeck 系数和电阻率。主要是用于测试块体热电材料,包括康铜、镍、钨等金属,Te、Bi2Te3、ZrNiSn、ZnAgSb、NiMoSb、SnTe、FeNbSb、 CuGaTe2、GeTe、CuS、Cu2ZnSnSe4等半导体及化合物,以及PANI、PEDOT等高分子聚合物。 产品特点 采用动态法测量 Seebeck 系数,避免了传统静态测量法在温差测量方面的系统误差,测量更准确; 采用四线法测量电阻率,测量更加稳定可靠; 热电偶不直接和样品接触,避免出现微型热电偶断裂失效的问题; 友好的软件界面,操作简单,…