热电参数测试系统 Namicro 采用准动态法和四探针法分别测量样品的Seebeck 系数和电阻率。主要是用于测试块体热电材料,包括康铜、镍、钨等金属,Te、Bi2Te3、ZrNiSn、ZnAgSb、NiMoSb、SnTe、FeNbSb、 CuGaTe2、GeTe、CuS、Cu2ZnSnSe4等半导体及化合物,以及PANI、PEDOT等高分子聚合物。
采用动态法测量 Seebeck 系数,避免了传统静态测量法在温差测量方面的系统误差,测量更准确;
采用四线法测量电阻率,测量更加稳定可靠;
热电偶不直接和样品接触,避免出现微型热电偶断裂失效的问题;
友好的软件界面,操作简单,采用智能化数据存储及处理算法;
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设备系列 | Namicro-3 |
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温度范围 | 室温-800℃(环境温度) |
测量范围 | 电阻率:0.1µΩ•m-106µΩ•m Seebeck 系数:|S|≥8µV/K |
相对误差 | 电阻率≤±10%;Seebeck系数≤±7% |
分辨率 | 电阻率:0.05μΩ•m;Seebeck系数:0.05µV/K |
样品尺寸 | 长度:2mm-5mm;宽度:2mm-5mm 高度:10mm-18mm |
最大升温速率 | 20℃/min |
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