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薄膜变温电阻测试系统

在真空环境中可连续测量金属、半导体、导电高分子等材料电阻随温度的变化

  • 控温范围:100K-700K
  • 控温精度:±0.1K
  • 测量误差:≤±10%
  • 测量精度:0.05μΩ•m
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